【官方網(wǎng)址】http://www.henergysolar.com/product/hs-clt.htm合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1 s到6000 s，硅料電阻率下限達0.1 .cm(可擴展至0.01 .cm)。測試過程全程動態(tài)曲線監(jiān)控，少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復合效應(yīng)等缺陷情況，是原生多晶硅料及半導體及太陽能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測量儀器。少子壽命測試儀-產(chǎn)品特點■測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量?！鲋饕獞?yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等?！鲞m用于低阻硅料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達 ＞0.1 ?cm（可擴展至0.01 ?cm），完全解決了微波光電導無法檢測低阻單晶硅的問題。■全程監(jiān)控動態(tài)測試過程，避免了微波光電導（u-PCD）無法觀測晶體硅陷阱效應(yīng)，表面復合效應(yīng)缺陷的問題?！鲐灤┥疃却?，達500微米，相比微波光電導的30微米的貫穿深度，真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量，避免了表面復合效應(yīng)的干擾。 ■專業(yè)定制樣品架最大程度地滿足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求，包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等?！鲂詢r比高，價格遠低于國外國外少子壽命測試儀產(chǎn)品，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。少子壽命測試儀-推薦工作條件■溫度：23 2℃■濕度：60%~70%■無強磁場、不與高頻設(shè)備鄰近少子壽命測試儀-技術(shù)指標■測試材料：硅半導體材料-硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片等，鍺半導體材料?！錾僮訅勖鼫y試范圍:1 s-6000 s■可測低阻硅料下限：0.1 .cm,可擴展到0.01 .cm■激光波長：1.07 m■激光在單晶硅中的貫穿深度：500 m■工作頻率：30MHz■低輸出阻抗，輸出功率＞1W■電源：～220V50Hz功耗＜50W少子壽命測試儀-典型用戶北京，浙江，四川，河北，河南等地的硅料生產(chǎn)企業(yè)及半導體光伏拉晶客戶電子郵件咨詢:Sales@HenergySolar.com