用途：該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用按照下列標準之一或其結合為依據(jù)而制造的:GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則