FISCHER X-射線熒光測(cè)厚儀可測(cè)量所有電鍍層的厚度及分析物料成份：系統(tǒng)已經(jīng)預(yù)設(shè)有以XRF方法分析物料或溶液的成份和含量：這方法是根據(jù)ASTMB568,DIN60987及ISO3497的規(guī)格。XUL內(nèi)的X-射線管及比例接收器都是安裝在測(cè)量臺(tái)的下面，便形成了X-射線 由上而下 的測(cè)量方法；亦承繼了FISCHER最成功的X-射線測(cè)厚儀系列1000/1010/1020，這種設(shè)計(jì)給予許多方面的優(yōu)點(diǎn)。XUI以獨(dú)特的WinFTM軟件為系統(tǒng)的核心像其他FISCHERSCOPE X-射線熒光測(cè)厚儀能夠進(jìn)行分析及測(cè)量程序，可以在不需要調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片而直接測(cè)量厚度，在測(cè)量一些復(fù)雜鍍層組合時(shí)準(zhǔn)確性亦相當(dāng)高。 XDLM儀器配備四個(gè)可切換的準(zhǔn)直器和一個(gè)可編程的XY(Z)測(cè)量臺(tái)，非常適于測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件。