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單晶少子壽命測試儀 壽命測試儀 測試儀

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所在地: 北京
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更新日期: 2010-09-30 18:18
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【單晶少子壽命測試儀 壽命測試儀 測試儀】詳細(xì)說明
單晶少子壽命測試儀壽命測試儀 測試儀 型號:GSZ-DSY-II *.用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。 本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法 的原理設(shè)計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放 大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品 臺共五部份組成;*.測試單晶電阻率范圍: 10 .cm*可測單晶少子壽命范圍:20 S-5000 S;
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