*.根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的專用于測(cè)量硅晶塊、晶片電 阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡 膠等材料方塊電阻的手持式儀器；*.體積僅為：185mm(長(zhǎng))*90mm(寬)*30mm(高)；*.測(cè)量范圍 - 電阻率：0.01～1999.9 .cm； 方塊電阻：0.1～19999 /□；*.鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時(shí)；本司有多種臺(tái)式、立式、手持式四探針電阻/方阻測(cè)試儀及其配件供應(yīng)，歡迎來電選購(gòu)。