KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介 為解決太陽(yáng)能單晶、多晶少子壽命測(cè)量，特按照國(guó)標(biāo)GB/T1553及SEMIMF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測(cè)試儀。 該設(shè)備是按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553 硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法 設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國(guó)半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測(cè)器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過(guò)數(shù)次全國(guó)十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn)，證明是一種成熟可靠的測(cè)試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測(cè)量；也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量，給出相對(duì)壽命值。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面，制樣簡(jiǎn)便。