數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀型號(hào)：KDK-LT-100C產(chǎn)品名稱：KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：KDK-LT-100C生產(chǎn)廠商：北京恒奧德儀器儀表有限公司產(chǎn)品編號(hào)：產(chǎn)品單價(jià)：所屬欄目：熱賣產(chǎn)品產(chǎn)品簡介 北京恒奧德儀器儀表有限公司 為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測(cè)量，特按照國標(biāo)GB/T1553及SEMIMF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測(cè)試儀。 該設(shè)備是按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553 硅單晶少數(shù)載流子壽命測(cè)定的高頻光電導(dǎo)衰減法 設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測(cè)器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過數(shù)次全國十多個(gè)單位巡回測(cè)試的考驗(yàn)，證明是一種成熟可靠的測(cè)試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測(cè)量；也可對(duì)硅片進(jìn)行測(cè)量，給出相對(duì)壽命值。方法本身對(duì)樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。