HHDW系列為通用型物位計用于連續(xù)物位的測量，產(chǎn)品應(yīng)用于工礦現(xiàn)場，適用于大多數(shù)應(yīng)用場合，儀表由一個電路單套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳感器有多種型號可選，儀表可選整體和分體安裝。用于連續(xù)測量。 測量原理 射頻導(dǎo)納物位控制技術(shù)是一種從電容式物位控制技術(shù)發(fā)展起來的、防掛料、更可靠、更準(zhǔn)確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，是電容物位計的技術(shù)升級， 射頻導(dǎo)納 中 導(dǎo)納 的含義為電學(xué)中阻抗的倒數(shù)，它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成，而 射頻 即高額，所以射頻導(dǎo)納技術(shù)可以理解為用高頻測量導(dǎo)納。高頻正弦振蕩器輸出一個穩(wěn)定的測量信號源，利用電橋原理，以精確測量安裝在待測容器中的傳感器上的導(dǎo)納，在直接作用模式下，儀表的輸出隨物位的升高而增加。對一個強導(dǎo)電性物料的容器，由于物料是導(dǎo)電的，對變送器探頭來說僅表現(xiàn)為一個純電容，隨著容器排料，探桿上產(chǎn)生掛料，這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導(dǎo)電性越強誤誤差越大。從電學(xué)角度來看，掛料層相當(dāng)于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當(dāng)于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成部分的阻抗和容抗數(shù)值相等，因此用交流鑒相采樣器可以分別測量電容和電阻。測得的總電容相當(dāng)于C物位+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以獲得物位真實值，從而排除掛料的影響。 即C測量=C物位+C掛料C物位=C測量-C掛料=C測量-R