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蔡司顆粒度分析儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 
單 價(jià): 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 陜西 西安市
有效期至: 長(zhǎng)期有效
更新日期: 2010-09-29 23:11
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【蔡司顆粒度分析儀】詳細(xì)說(shuō)明
產(chǎn)品名稱:顆粒度分析儀(油品分析儀,清潔度分析儀) 顆粒度分析的飛躍 全新高效的分析(ParticleAnalyzerAxioImager.M1mandParticleAnalyzerv12) 隨著產(chǎn)品的不斷小型化及包裝質(zhì)量要求的提高,其技術(shù)要求也更加嚴(yán)格 尤其是引起零部件功能損耗及藥物產(chǎn)品質(zhì)量下降的灰塵顆粒,需要得到可靠精密的探測(cè)。許多工業(yè)部門 從藥品制造到自動(dòng)供應(yīng)商都已經(jīng)認(rèn)識(shí)到,他們需要適當(dāng)?shù)臅娌牧蟻?lái)證明其零部件及清洗液的純凈度。最常見的方法即為圓形濾波器顆粒分析 油品及藥物過(guò)濾后,殘留物將進(jìn)行量化評(píng)級(jí)。直到現(xiàn)在,一些簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用還受到顆粒分析系統(tǒng)的限制。許多指導(dǎo)方法,如ISO16232,需要進(jìn)行完全過(guò)濾才能實(shí)現(xiàn)。鑒于該種復(fù)雜分析所需要的分辨率及存儲(chǔ)量,評(píng)估只能在直徑50mm的很小范圍內(nèi)進(jìn)行,而其復(fù)雜的操作及有限的靈活性也造成了其他局限。常規(guī)的工業(yè)應(yīng)用需要一個(gè)能夠適應(yīng)現(xiàn)在的解決方案 分辨率高、通用、簡(jiǎn)單、可靠并能在全球范圍內(nèi)應(yīng)用;能在多領(lǐng)域應(yīng)用的高度靈活性并能輕松應(yīng)對(duì)未來(lái)的需要。CarlZeiss顆粒度分析儀打破了當(dāng)代顆粒分析的局限,將工業(yè)顆粒檢測(cè)引領(lǐng)到了一個(gè)新的高度。完善的分析標(biāo)準(zhǔn) 顆粒度分析儀支持所有重要的國(guó)內(nèi)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、ASTMD4378-03、VDA19等。所有方法都能通過(guò)菜單欄輕松得到激活。相關(guān)的級(jí)別、級(jí)別標(biāo)準(zhǔn)及適當(dāng)?shù)臏y(cè)量參數(shù)都能自動(dòng)設(shè)置及選擇。CarlZeiss分析系統(tǒng)軟件的最大優(yōu)勢(shì)在于其可編輯性,新標(biāo)準(zhǔn)能夠便捷添加到現(xiàn)存系統(tǒng),而不依賴于軟件版本的升級(jí)。應(yīng)用: 過(guò)濾膜殘留物測(cè)定 用圓形過(guò)濾器進(jìn)行顆粒分析是進(jìn)行質(zhì)量保證的標(biāo)準(zhǔn)過(guò)程。按照生產(chǎn)流程,將隨機(jī)抽取的零部件樣本用一定量的液體進(jìn)行清洗,然后壓/吸過(guò)過(guò)濾膜,任何的灰塵顆粒將被濾出然后在顯微鏡下進(jìn)行觀察。這一過(guò)程也在風(fēng)能電站得到應(yīng)用,如:檢測(cè)服務(wù)間隔。在這里,使用到了潤(rùn)滑劑。在所有領(lǐng)域的應(yīng)用中,mm級(jí)的大顆粒具有明顯的重要意義,它們只能通過(guò)圖像拼接來(lái)精確獲取。顆粒度分析儀第一次使其成為可能,完整的獲取整個(gè)圓形濾波器的圖像,不需要進(jìn)行多次測(cè)量即可執(zhí)行相關(guān)評(píng)估。結(jié)果即為所有定義尺寸范圍的精確分析。 油品污染度(清潔度)分析 檢測(cè)油中污染雜質(zhì)顆粒的尺寸、數(shù)量及分布,檢測(cè)潤(rùn)滑油中的污染顆粒的數(shù)量和污染等級(jí),對(duì)于精密的液壓系統(tǒng),固體顆粒污染將加劇控制元件的磨損,對(duì)于透平系統(tǒng),固體顆粒污染將加劇軸承等部件的磨損。 鐵譜磨損分析 檢測(cè)在用油中磨損顆粒的形狀、成分、大小和數(shù)量,對(duì)磨損顆粒形狀的分析,判斷設(shè)備的異常磨損類型; 對(duì)磨損顆粒大小和數(shù)的分析,判斷設(shè)備的異常磨損程度;對(duì)磨損顆粒成分的分析,判斷設(shè)備的異常磨損部位。塑膠孔隙度 碳化硅(SIC)是一種常在化學(xué)及電子工業(yè)(半導(dǎo)體技術(shù))、航空航天、工具制造、機(jī)械工程及自動(dòng)化工業(yè)(發(fā)動(dòng)機(jī)構(gòu)成)領(lǐng)域應(yīng)用的材料。由于SIC是一種及其堅(jiān)固的材料,它可以作為暴露在1400 C以上(消除機(jī)械及腐蝕壓力)物體的理想組件。由于SIC的粒子比例及尺寸決定其機(jī)械品質(zhì)及最終產(chǎn)品的表面特征,對(duì)這些特性進(jìn)行分析在工業(yè)上具有及其重要的意義。顆粒度分析儀的高度靈活可靠使其成為最新CarlZeiss系統(tǒng)在應(yīng)用領(lǐng)域強(qiáng)有力的分析工具。壓鑄部件缺陷 材料的力學(xué)性能常常受到制造相關(guān)工藝 鑄造的負(fù)面影響(增加了內(nèi)部的集中應(yīng)力),如氣孔、氣洞和空洞。尤其帶有鎂或鋁鑄造材料時(shí),收縮氣孔及天然氣空洞不可避免,從技術(shù)的角度看更是如此。但是,它們可以通過(guò)對(duì)生產(chǎn)及冷卻過(guò)程進(jìn)行修正來(lái)調(diào)整。今天,工業(yè)領(lǐng)域尤其重視對(duì)斷裂(尤其在材料表面)的自動(dòng)探測(cè),斷裂尺寸也是如此。主要焦點(diǎn)都集中在大缺陷上將造成單個(gè)圖像測(cè)量時(shí)的分析不足,顆粒度分析儀在圖像拼接上的功能使其能夠在該領(lǐng)域獲得可靠結(jié)果。藥膏結(jié)晶活性 藥膏,如皮膚及粘膜的殺菌劑制備,是根據(jù)其活性物質(zhì)的分布來(lái)探測(cè)的,表現(xiàn)為結(jié)晶形式。樣本或來(lái)自開發(fā)的新產(chǎn)品,或來(lái)自完成的藥膏軟管,其品質(zhì)已在生產(chǎn)過(guò)程中探測(cè)完成。在透射光顯微鏡下,藥膏涂抹在切片上,在偏光觀察方式下進(jìn)行觀察(10x及20x物鏡)?;钚晕镔|(zhì)結(jié)晶能夠作為暗色結(jié)構(gòu)清晰可見并利用圖像分析進(jìn)行評(píng)估。為了驗(yàn)證該系統(tǒng),一個(gè)常規(guī)面積(100平方微米面積圓)應(yīng)每月測(cè)量一次并將測(cè)量結(jié)果同相關(guān)值進(jìn)行比對(duì)。顆粒度分析儀第一次使其成為可能,大的晶體聚合物及小的顆粒均能一步探測(cè)測(cè)量,并將其顆粒分布同標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程下的分布進(jìn)行比對(duì)。
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