N4PLUS納米顆粒粒度分析儀原產(chǎn)地：美國BECKMANCOULTER技術(shù)參數(shù)：測量范圍：1-5,000nm測量時間：30-180秒重現(xiàn)性：優(yōu)于3%CV粒度分布：可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個峰精度：2-5%樣品溫控范圍：0-90℃±0.1℃數(shù)據(jù)輸出：平均粒度、粒度分布、擴(kuò)散系數(shù)及平均分子量激光源：10mWHe-Ne激光器，波長632.8nm探測器：六角度探測器主要特點(diǎn)：　　N4Plus是采用激光法測超細(xì)顆粒的粒度分析儀，激光法測顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動著的顆粒所產(chǎn)生的動態(tài)的散射光，通過光子相關(guān)光譜分析法PCS(PhotonCorrelationSpectroscopy)分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。是同類產(chǎn)品中唯一采用六個角度（在0-900C角度范圍）檢測的儀器獨(dú)有的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類型