顆粒的zeta電位與體系的分散穩(wěn)定性密切相關(guān)，zeta電位是顆粒體系的重要表征。流行的zeta電位測(cè)量采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，但是這種方法在應(yīng)用上受到極大限制，首先一旦顆粒大于1微米產(chǎn)生定向運(yùn)動(dòng)，就超出了該技術(shù)的適用范圍；其次必須對(duì)樣品進(jìn)行稀釋至顆粒濃度1000ppm以下。而大多數(shù)樣品一經(jīng)稀釋狀態(tài)即已經(jīng)變化，所測(cè)數(shù)據(jù)不能代表原始狀態(tài)。微米顆粒的zeta電位測(cè)定是使許多學(xué)者頭痛的問(wèn)題，現(xiàn)在有了最新的測(cè)量手段。 在PittCon2010上，美國(guó)康塔儀器公司推出圖像法實(shí)時(shí)zeta電位分析儀ZetaReader，使上述難題迎刃而解。這種方法基于準(zhǔn)確可靠的計(jì)算機(jī)技術(shù)，采用高分辨紫外成像方法，可直接觀察到納米級(jí)顆粒，因此無(wú)需復(fù)雜的相關(guān)器，節(jié)約了儀器空間。這種技術(shù)容易操作，直接照像取樣，無(wú)論顆粒是否團(tuán)聚，均可分析顆粒單體。樣品可裝入任何容器，因此可在線使用。