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R3765BH 網(wǎng)絡(luò)分析儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 廣東 深圳市
有效期至: 長期有效
更新日期: 2010-09-03 14:07
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公司基本資料信息
 
 
 
【R3765BH 網(wǎng)絡(luò)分析儀】詳細(xì)說明
產(chǎn)品名稱:R3765BH品  牌:愛德萬產(chǎn)品型號:R3765BH產(chǎn)品指標(biāo):成色極新,數(shù)量多臺.3765系列網(wǎng)絡(luò)分析儀3765系列3.8GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠快速和精確地測量幅度、相位、群延遲和阻抗。測量的頻率范圍為40MHz~3.8GHz。由于它具有最新高速信號處理結(jié)構(gòu),可以進行10kHzRBW(IF帶寬)的0.25ms/點的快速測量??蓱?yīng)用于生產(chǎn)線或工程中。每一系列包括三種型號:A型(基本型),B型(內(nèi)置電橋)和C型(內(nèi)置S參數(shù)測試裝置)。由于使用熒光特性顯象管的簡單結(jié)構(gòu),采用獨立的分析儀功能和容易讀數(shù)的7.8英寸大TFT彩色LCD顯示,所以很容易進行數(shù)據(jù)比較和模式分析。內(nèi)置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和條碼輸入功能,使它很容易完成測量、分析和評估以及建立一個高速ATE(自動測試裝置)系統(tǒng)。因此,3765系列在使用標(biāo)準(zhǔn)FDD格式(720K,1.2M和1.44M字節(jié))和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令的情況下,非常適合作為系統(tǒng)組成部分。★測量頻率范圍:40MHz~3.8GHz★用于特定場合的三種類型:....A型:基本型....B型:內(nèi)置電橋型....C型:內(nèi)置S參數(shù)測試裝置★高速掃描....0.15毫秒/點(帶有標(biāo)稱校準(zhǔn))★高速測量:0.15毫秒/點★具有4通道和8跡線的多功能顯示★100dB寬動態(tài)范圍★對于掃描中不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能作為系統(tǒng)的組成成分32字×8行的熒光屏顯示,R3764A/B/C(3.8GHz)獨立應(yīng)用7.8英寸TFT彩色LCD,R3765A/B/C(3.8GHz)儀器類型特征應(yīng)用典型應(yīng)用場合單極性BPF多極性BPF雙工器功放2-DUT同時測量A型通用模式R3764A,R3765A測試裝置連接〇〇〇預(yù)處理:介質(zhì)濾波器雙工器SAW濾波器等檢查過程:功放等B型|Z|測量模式(低成本類型)R3764B,R3765B內(nèi)置電橋傳輸反射同時測量〇預(yù)處理:介質(zhì)濾波器雙工器移動臺天線等檢查過程:移動天線等C型參數(shù)全部測量模式R3764C,R3765C內(nèi)置S參數(shù)測試裝置正向/反向測量○0.15ms/點的高速掃描在電介質(zhì)濾波器、SAW濾波器、隔離器、環(huán)行器、功率放大器、天線和其它電子元件的生產(chǎn)線的測量系統(tǒng)中,總產(chǎn)量是一個至關(guān)重要的參數(shù)。R3764/3765系列能夠?qū)崿F(xiàn)0.15ms/點(10kHzRBW和歸一化校準(zhǔn))或0.25ms/點(10kHzRBW和2端口校準(zhǔn))的掃描速度。具有4通道和8跡線的多功能顯示由于具有4通道和8跡線顯示功能,R3765C能夠在直角坐標(biāo)和極性坐標(biāo)中用Smith圓圖對2端口器件的四個S參數(shù)(S11,S21,S22和S12)同時進行顯示,這樣就便于對測量數(shù)據(jù)進行快速分析。而且,具有TFT彩色LCD的R3764/3765系列網(wǎng)絡(luò)分析儀通過使用重疊數(shù)據(jù)顯示和限制線功能可以對數(shù)據(jù)進行識別。100dB寬動態(tài)范圍作為信息和通訊設(shè)備用于窄帶和高頻測量時,它內(nèi)部裝有用于測量電介質(zhì)和SAW濾波器的更高、更真實性能指標(biāo)的指令。R3764/3765系列的100dB寬動態(tài)范圍(10HzRBW)非常適合于測試這類電子元件,例如測量通常的波紋和阻帶的失真信號。針對不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能程控掃描功能可以設(shè)置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時,通過改變分辨率帶寬和輸出電平可以實現(xiàn)通帶和阻帶中的更快速和更精確的特性測量。
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