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上海如慶特價現(xiàn)HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標準 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 上海
有效期至: 長期有效
更新日期: 2013-02-26 09:42
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詢價
公司基本資料信息
 
 
 
【上海如慶特價現(xiàn)HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀】詳細說明
產(chǎn)品品牌:國產(chǎn) 產(chǎn)品型號:HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀 類型:超聲波探傷儀測量范圍:* 分辨率:*尺寸:**(mm) 重量:*(kg) HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀 ◆滿足GB/T4730、EN12668、BS7706、ASTM、ASME、ENV583、CEN-14751、 NEN1822、DNV、API、RBIM等標準及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標要求;◆具有JB/T4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能 合成孔徑聚焦(SAFT);◆具有長續(xù)航時間、高檢測效率、人性化的操作界面,現(xiàn)場使用性更好,可實現(xiàn)現(xiàn)場遠程控制及自動掃查: 提供滿足企業(yè)特殊要求的軟件定制服務。 提供滿足現(xiàn)場特殊檢測要求的手動、自動掃查器及硬件配置定制服務。 HS810性能特點A特優(yōu)點 全中文菜單式友好操作界面,方便快捷; 超高亮彩色液晶顯示,可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變; 超聲衍射波成像檢測,解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查 厚度及檢測效率局限性,節(jié)約探傷成本; 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、 導波成像等多能一體; 獨有合成孔徑聚焦技術,領潮行業(yè),有效提高缺陷 測量精度; 波形相位穩(wěn)定,信噪比高,缺陷識別更清晰; 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝; 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各 種工件檢測要求; 多通道TOFD檢測實現(xiàn)大厚壁焊縫一次性全面覆蓋; 超大機內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡傳輸功能; 高分子復合材料機身,有效防震、抗跌落; 集成數(shù)據(jù)電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗??; 高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續(xù)航。 B探傷功能掃查方式:對焊縫進行全面非平行、平行掃查缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力B掃成像:實時顯示缺陷截面形狀C掃成像:實時顯示缺陷俯視成像D掃成像:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對 缺陷質(zhì)量進行評價P掃成像:實時空氣超聲定位,對缺陷進行三維描述,提高 缺陷判性準確率導波成像:對薄壁工件進行一維掃查,獲取二維成像C掃描范圍多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內(nèi)的分區(qū)掃查;可擴展至400mm厚度。D數(shù)據(jù)分析直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度橫豎調(diào)整:滿足不同現(xiàn)場操作習慣SAFT:國際公認有效提高缺陷測量精度的功能E數(shù)據(jù)存儲與輸出 預先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù),方便存儲、調(diào)出、離線分析、 復驗、打印、通訊傳輸。 超大內(nèi)存容量,單次掃查最多可記錄40米。 掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。 支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡傳輸、外接顯示器等。HS810技術參數(shù)頻帶寬度:0.3-22MHz脈沖電壓:-400V脈沖前沿: 10ns重復頻率:1000Hz(每通道)平均次數(shù):8采樣深度:512,1024匹配阻抗:25,500檢波方式:數(shù)字檢波增益范圍:0dB-110dB波形顯示方式:射頻波, 檢波(全檢、負或正半檢波), 信號頻譜(FFT)掃描延時:0~500us可控0.008us精度掃查定位:時基(內(nèi)置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)成像模式:根據(jù)選擇的操作模式和相應的儀器配置及設置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導波成像直線掃查長度:0-40米記錄方式:完全原始數(shù)據(jù)記錄離線分析:恢復和回放掃查時記錄的A掃波形 缺陷尺寸測量和輪廓描述 厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析 記錄轉換到ASCⅡ/MSWord/MSExcel數(shù)據(jù)報告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導波檢測
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